Novo sistema de inteligência artificial auxilia na análise de microscópios

O Departamento Energético dos EUA, através do Laboratório Nacional de Oak Ridge (ORNL), desenvolveu um sistema de inteligência artificial (IA) chamado SimuScan que auxilia na operação de microscópios de força atômica (AFM).

Embora os microscópios AFM possam revelar estruturas tão pequenas quanto moléculas, sua operação ainda requer julgamento especializado sobre onde escanear, ajustar configurações e qualificar quais características merecem estudo adicional.

Com SimuScan, a tarefa de operar um microscópio AFM se torna mais rápida, consistente e adequada para pesquisas de alto volume. O sistema gera imagens sintéticas de alta qualidade, permitindo que modelos de IA sejam treinados sem grandes volumes de dados manualmente anotados.

Segundo os pesquisadores, a tecnologia ajuda a superar um dos maiores desafios da IA para microscópios AFM: a falta de dados de treinamento de alta qualidade. O SimuScan simula condições reais de uso, incluindo imperfeições como efeitos do ponteiro, deslocamentos do scanner, ruído eletrônico e superfícies irregulares.